近日，由中国电子技术标准化研究院等单位起草，TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口的国家标准计划《集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义》征求意见稿已编制完成，现公开征求意见。
为规范集成电路电磁发射测量，以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方法，GB/T XXXXX规定了集成电路电磁发射测量的通用条件、定义和不同测量方法的试验程序和试验要求，拟由9个部分构成。
——第1部分：通用条件和定义，目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义。
【资料图】
——第1-1部分：通用条件和定义 近场扫描数据交换格式，目的在于规定近场扫描数据交换格式。
——第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法，目的在于规定TEM小室和宽带TEM小室法的试验程序和试验要求。
——第3部分：辐射发射测量 表面扫描法，目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。
——第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法，目的在于规定1Ω/150Ω直接耦合法的试验程序和试验要求。
——第4-1部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法应用指南，目的在于给出1Ω/150Ω直接耦合法应用指导。
——第5部分：传导发射测量 工作台法拉第笼法，目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求。
——第6部分：传导发射测量 磁场探头法，目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求。
——第8部分：辐射发射测量 IC带状线法，目的在于规定IC带状线法的试验程序和试验要求。
本文件是GB/T XXXXX《集成电路 电磁发射测量》的第1部分。
GB/T XXXXX的本文件提供了集成电路的传导和辐射电磁发射测量的通用信息和定义，同时也给出了试验条件、试验设备和配置、试验程序和试验报告内容的描述。附录A中给出了试验方法的对照表，以帮助选择适当的测量方法。
本文件的目的是描述通用条件，以建立一个统一的测试环境，来定量地测量来自集成电路(IC)的射频(RF)骚扰。本文件描述了影响试验结果的关键参数。与标准的偏离应在试验报告中明确地注明。测量的结果可以用于产品比较或其他用途。
通过对受控条件下集成电路产生的辐射射频骚扰或传导射频发射的电压和电流的测量，可以获得集成电路应用过程中可能产生的射频骚扰信息。
GB/T XXXXX的每个部分规定了所适用的频率范围。
试验环境条件：
1.环境温度
为了试验的可重复性，试验过程中环境温度应保持在23°C±5°C范围内。IC电磁发射可能随温度而不同。
2.环境RF场强
环境RF噪声电平应低于被测的最低发射电平至少6dB，并应在对IC测量前进行验证。DUT应在不上电的条件下(例如断开电源电压)安装在试验布置中用于测试。应进行扫描测量残留噪声。环境RF噪声的描述应作为试验报告的一部分。
3.其他环境条件
所有影响试验结果的其他环境条件都应在试验报告中说明。
时间稳定性
IC的功能表现应是长期稳定的，使得间隔一段时间的两次测量，在测量技术的预期变化范围内，能得到相同的结果。
RF 测量仪器：
1.概述
可以使用测量接收机或频谱分析仪(见表1和表2的默认设置)。测量接收机应满足CISPR 16-1-1规定的带宽要求。
2.测量接收机
测量接收机频段和分辨率带宽(RBW)的默认设置见表1。
3.频谱分析仪 频谱分析仪频段和分辨率带宽(RBW)的默认设置见表2。
4.用于窄带发射的 RBW 当RF发射为窄带信号，测量技术需要更低的本底噪声以从环境RF噪声中分辨出被测信号时，可以减小RBW。
5.发射类型、检波器类型和扫描速度
确定发射是窄带为主还是宽带为主，可以通过默认带宽和下一个更窄的带宽(即带宽减小1/3)来测量。当带宽减小1/3时，如果频谱的峰值测量电平减小5dB或更多，则发射可以看作宽带为主。
同步时钟工作的数字IC就是一种窄带发射源。该类IC通常产生以时钟谐波和分频为主的连续发射频谱。因此，所选的检波器不会影响指示器的读数。峰值检波器应被用于窄带源测量。
6.视频带宽
当使用频谱分析仪用于测量时，视频带宽(VBW)应至少是RBW的三倍。
测量仪器校准的验证
如果要得到确定的电平值，应通过与一个独立已校准的仪器进行对比来验证RF测量仪器的校准，该校准仪器应追溯到一个公认的校准机构。
8.频率范围
推荐的频率范围是150kHz～1GHz，但如果特定的试验程序支持扩展的频率范围，则推荐的频率范围可以进行扩展。根据功能，如果IC产生的发射仅在一段较小的频率范围内时，测量的频率范围也可以减小。
GB/T XXXXX的每个部分规定了所适用的频率范围。
9.前置放大器或衰减器
如有必要，可以使用内部或外部的前置放大器或衰减器。前置放大器或衰减器的噪声系数应小于10dB。前置放大器校准的最小分辨率是每10倍频程10个点。
10.系统增益
应验证参考点和RF测量仪器输入端之间的增益(或衰减)，准确度在±范围内。
11.其他部件
那些不在参考点和RF测量仪器输入端之间的测量路径上的电缆、连接器和终端负载，也可能影响测量结果。因此，应在被测频率范围内，对它们的特征参数进行验证。
试验布置：
应根据试验大纲进行试验，试验大纲的要求应包括在试验报告中。试验报告还应包括：
a) 应用电路图(电源去耦、总线负载、外围IC等)；
b) 应用IC的PCB的描述(版图设计)；
c) IC的实际工作条件(电源电压、输出信号等)；
d) 使IC运行的软件类型的描述(适用时)。
试验报告中应包含所有的变化。与辅助设备的连接不应影响试验结果。
其他的特殊要求在特定的试验程序中描述。
更多详情请见附件。
